北京华远高科电缆有限公司

　　产品简介　　X-Strata920镀层测厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪，是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品，将取代CMI900系列产品。能进行非破坏、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。　　详细介绍　　X-Strata920X射线测厚仪　　仪器介绍　　X-Strata920镀层测厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光（EDXRF）技术的大型台式测厚仪，是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品，将取代CMI900系列产品。能进行非破坏、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。　　　　适用范围　　　　用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、连接器、端子、卫浴洁具、五金件、汽车零部件、首饰饰品、装饰件、功能性电镀……多个行业表面镀层厚度的测量；　　测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体（镀液的成分分析）组成。　　　　主要特点　　可测元素范围：钛Ti22---铀U92；　　可测定5层（4层镀层底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；　　进行贵金属检测，如Aukarat评价；　　材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；　　测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；　　强大的数据统计、处理功能，测量结果输出多样化；　　拥有NIST认证的标准片；　　提供全球服务及技术支持。　　　　测量精度　　膜厚范围　　**层（**上层）　　第二层　　第三层　　小于0.5µm（20µin）　　1µin或更好　　2µin或更好　　3µin或更好　　大于0.5µm　　5%或更好　　10%或更好　　15%或更好　　　　　　含量　　**层　　第二层　　1--99wt%　　　　3wt%或更好　　工作原理　　对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。　　测厚范围　　取决于镀层的具体应用。
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