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X荧光镀层测厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。详细介绍X-Strata980X荧光测厚仪（X荧光镀层测厚及ROHS分析仪）（OxfordInstrument）X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择**合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。·100瓦X射线管·25mm2PIN探测器·多准直器配置·扫描分析及元素分布成像功能·灵活运用多种分析模型·清晰显示样品合格/不合格·超大样品舱·同时分析元素含量和镀层厚度·应用-RoHS/WEEE-有害元素痕量分析-焊料合金成分分析和镀层厚度测量-电子产品中金和钯镀层的厚度测量-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量-贵金属合金分析和牌号鉴定·X-Strata980配有超大功率X射线光管和高灵敏度探测器，能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。·有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。该款仪器性能卓越，能够分析包括多层复杂涂镀层、SAC合金、µPPF和太阳能电池板等复杂应用。•有害元素痕量分析•焊料合金成分分析和镀层厚度测量•电子产品中金和钯镀层的厚度测量•五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量•贵金属合金分析和牌号鉴定·电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。超大探测器灵敏窗口大幅提高了计数率——大多数的分析能在数秒或数分种内完成。灵活组合运用五个初级滤波器，使X光管激发效率达到**，得到**的应用效果。仪器测量直径**小可达到150微米。可供选择的准直器直径有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特别设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音，从而达到更低的检测下限。对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测·仪器在设定的检测程序中可通过扫描功能一次性快速分析大面积的指定区域。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。扫描分析及元素分布成像功能能够快速识别复杂组件中的含铅的零部件或连接件。该款仪器内置数码影像装置，能够精确显示样品摆放位置及测试点位置。样品扫描映射成像图中可对各种待测元素设置不同颜色，然后形成单种或多种元素的组成及含量分布图。
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